Puig T., Obradors X., Plain J., Sandiumenge F.(felip@icmab.es), Rabier J., Proult A., Stretton I.
Ключевые слова: HTS, YBCO, bulk, pinning, strain effects, stacking fault, critical current density, temperature dependence, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.